Leitz Reference Xi – “Xi” 代表着系统具备充分的“灵活性”。 将Leitz高性能的扫描技术应用于新型Leitz Reference Xi，提供了丰富的测量选择：从连接自动旋转测座的HP-S-X1扫描探测系统，到配备固定式扫描探测系统HP-S-X3C 一直到HP-S-X5 HD，能够在配备加长探针的情况下保持高精度。 在各种配置下提供一如既往的高精度 - 无论是分度还是固定式探测系统。通过配备支持多测头的控制器，Leitz Reference Xi系列测量机还能够配备激光扫描测头、接触式粗糙度测头，实现微观尺寸评定。这些不同形式的测头传感器可以通过SENMATION多测头平台整合在一台Reference Xi 上随时取用，实现在各种环境下的高精度、全自动、复合式灵活测量。
产品参数
|
型号 |
行程范围（mm） |
外形尺寸（mm） |
|
5.4.3 |
500*400*300 |
1405*950*2087 |
|
7.7.5 |
700*700*500 |
1610*1250*2601 |
|
10.7.6 |
1000*700*580 |
1910*1250*2773 |
|
12.9.7 |
1200*900*690 |
2500*1560*3073 |
|
15.9.7 |
1500*900*690 |
2800*1560*3073 |
|
20.9.7 |
2000*900*690 |
3300*1560*3073 |
|
15.12.10 |
1500*1200*900 |
2900*1860*3422 |
|
22.12.10 |
2200*1200*900 |
3650*1860*3422 |
|
30.12.10 |
3000*1200*900 |
4450*1860*3512/3422 |
|
40.12.10 |
4000*1200*900 |
5450*1860*3662/3572 |
|
45.12.10 |
4500*1200*900 |
5950*1860*3662/3572 |
|
30.15.10 |
3000*1500*900 |
4450*2160*3662/3572 |
|
26.15.14 |
2600*1500*1210 |
3950*2160*4545/4455 |
|
33.15.14 |
3300*1500*1210 |
4650*2160*4545/4455 |
MPEE:自1.1起
